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CTC 2M误码测试仪

文章来源:admin   发布时间:19-10-18 02:34 

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产品名称:CTC 2M误码测试仪
规  格:ctc-dynateltm-2200m
产品备注:CTC 2M误码测试仪
产品类别:2M误码测试仪

产 品 说 明
功能特点:
真彩屏、图形化、全中文操作界面
多种类型E1差错分析,包括E1帧、图案、CRC、和BPV分析
误码性能分析(G.821,G.826,M.2100)
E1信号频偏测试
可对E1线路的各个时隙进行设定(FAS,CAS)
可对E1信道中的时隙进行抽取和插入(N × 64K数据)
对信令的ABCD比特进行设定,显示
对0时隙的Sa比特进行设定,显示
数据端口的误码测试(接口形式:V.35,V.24/RS232,RS449,RS530,X.21)
离线分析BERT性能
可存储100个配置和测试结果文件,由用户存储或调出。
PC终端本地或远程控制
直方图直观显示
多种测试结果输出方式:内部存储结果、液晶屏显示、并行口打印
内置大容量充电电池,便于现场携带使用。

接口形式:
E1接口: RJ45(平衡)、BNC(非平衡)
数据接口: DB26(母)
时钟接口: PCM
打印口: DB15 (母)
控制口: USB

基本应用:
E1线路误码测试
成帧与非成帧的端到端测试
成帧监测
分时隙的抽取和插入
数据线路误码测试
DTE/DCE n ×64k 同步测试
DTE/DCE 低速率,同步/异步测试
常用BERT测试

G.703 E1口 BERT测试:

BERT 码型63,127,511,2047223 –1QRSS等多种码型及用户编程
BERT 显示格式 ITU G.821, ITU G.826, ITU-M.2100
BERT 发送差错率 强加单一差错,强加10-3 10-7 差错率
性能分析Logic, Frame, CRC, BPV, E-bit 差错,接收计数,误码秒,无误码秒,误码率
E1分析方式 信道图示,Sa比特,信令ABCD比特等
E1口 规格 收发速率 2048K bit/s ± 3ppm. @25oC
线路编码 HDB3
脉冲特性 符合ITU-T G.703
时钟设定 内时钟,外时钟,恢复时钟,数据口时钟
帧结构 不成帧,成帧;FAS,FAS+CAS;  CRC,不带 CRC


数据端口误码测试:

 DTEDCE同步误码测试DTE  DCE 低速同步/异步误码测试
接口V.35V.24/RS232,RS449,RS530,X.21V.24/RS232,V.35RS449,RS530,X.21
速率N X 64K (64K…2048K)异步:50 – 115.2K bps; 同步:150 – 72K bps
BERT码型63, 127, 29-1 (511), 211-1 (2047), 215-1 ITU 标准等
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